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红外透膜光学检查机 Hawkeye AVS350-G-IR
概述
设备名称:红外透膜光学检查机
设备型号:Hawkeye AVS350-G-R
适用产品:Frame wafer
产品尺寸:12”
产品厚度:>300um
膜下垂量:≤5mm
检查方式:红外显微镜透膜扫描
增透介质:纯水，耗水量0.8L/片
功能:切割后铁圈带膜产品，背面透膜红外检崩边/隐裂/划伤等
支持切割膜类型:高透膜，磨砂膜
设备型号:Hawkeye AVS350-G-R
适用产品:Frame wafer
产品尺寸:12”
产品厚度:>300um
膜下垂量:≤5mm
检查方式:红外显微镜透膜扫描
增透介质:纯水，耗水量0.8L/片
功能:切割后铁圈带膜产品，背面透膜红外检崩边/隐裂/划伤等
支持切割膜类型:高透膜，磨砂膜
详情内容
设备名称:红外透膜光学检查机
设备型号:Hawkeye AVS350-G-R
适用产品:Frame wafer
产品尺寸:12”
产品厚度:>300um
膜下垂量:≤5mm
检查方式:红外显微镜透膜扫描
增透介质:纯水，耗水量0.8L/片
功能:切割后铁圈带膜产品，背面透膜红外检崩边/隐裂/划伤等
支持切割膜类型:高透膜，磨砂膜
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